Analyse chimique de surface : Spectrométrie de photoélectrons X (XPS) et d'électrons Auger (AES)

Notions de base sur les techniques d’analyse de surface. Interaction rayonnement matière. Profondeur d’information. Sensibilité. Résolution latérale. Avantages et limites de chaque technique. Précautions pour la préparation des échantillons, l’acquisition et le traitement des données.

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PRÉ-REQUIS

Aucun

Programme

Cours :
- Interaction rayonnement-matière
– Principe de l’XPS et de l’AES
– Choix des conditions d’acquisition
- Calibration en énergie
- Interprétation des résultats
– Information sur l’environnement chimique
– Notion de profilométrie sans (ARXPS) et avec pulvérisation

Manipulation :
- Préparation d’un échantillon
– Acquisition en mode spectre
– Identification des éléments détectés
– Acquisition sur les niveaux d’énergie d’intérêt
– Calcul des concentrations
- Décomposition spectrale et exploitation des résultats en terme d’environnement chimique.

Objectifs

Connaître l’existence et le principe de fonctionnement de ces techniques pour choisir celle qui répondra le mieux aux questions posées (taille des objets à observer, concentrations attendues, épaisseur d’échantillon analysée). Savoir préparer les échantillons pour effectuer les mesures dans les meilleures conditions. Savoir exploiter les mesures.

DIPLÔME DÉLIVRÉ

Attestation de stage

Durée : 14h

2 jours

Nombre :
2 à 4 participants

PUBLIC

Techniciens,
Ingénieurs,
Chercheurs.

LIEU

DIJON
Université de Bourgogne
(Bâtiment Mirande)

TARIFS

500 € par jour et par personne
(repas midi et pauses café inclus)

DATES

Dates à définir*

*Veuillez contacter le responsable pédagogique de formation

CONTACT

Responsable pédagogique :
HEINTZ Olivier
olivier.heintz@u-bourgogne.fr

Chargé d’ingénierie de formation :
SALEUR Emmanuel
emmanuel.saleur@u-bourgogne.fr

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